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3D AOI檢測半導體封裝金絲鍵合

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3D AOI檢測半導體封裝金絲鍵合

發布日期：2022-04-26 作者： 點擊：

鍵合金絲是半導體封裝用引線鍵合絲的一種，可在導電性、熱傳導性、耐腐蝕性、穩定 性、加工性之間取得最佳平衡，讓其在高端市場中占據主要地位。


3D Wafer Bump（晶元錫焊）、Wire Bonding（引線鍵合）AOI檢測係統

Wafer Bump 3D AOI

高精度3D Wafer（晶元）檢測精密解析度配置可實現針對Foot形態元件的整體檢測

可直接檢測鏡麵元件，避免反光問題

奔創特有的3D技術 實現元件的精準3D成型，機器鏡頭采用同軸照明輔助2D檢測。

支持SIP/FCBGA/FOWLP/FOPLP/WLCSP等各種封裝方式的香蕉视频APP大全

AOI + SPI 混合檢測係統

Wafer Bump&Wire Bonding 3D AOI

精密解析度實現針對Bump、Mini LED、009004等各種微型、密集型元件的3D檢測 

Wafer Bump 3D AOI


本文網址：http://www.yutaijixie4.com/news/585.html

關鍵詞：3DAOI,半導體封裝,金絲鍵合

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